單孔分(fen)離出來(lai)力檢驗，單孔分(fen)離出來(lai)力就是(shi)指插(cha)合(he)情況的接觸(chu)件由靜止不動(dong)變成健身(shen)運動(dong)的分(fen)離出來(lai)力，用(yong)于定性(xing)分(fen)析針插(cha)和插(cha)口已經接觸(chu)。試驗說明：

    單(dan)孔分(fen)離出來(lai)力(li)過小，在受震動(dong)、沖(chong)擊(ji)性荷(he)載時(shi)有可(ke)能導致數據信號瞬(shun)斷。用(yong)測(ce)單(dan)孔分(fen)離出來(lai)力(li)的方式檢查接觸(chu)(chu)可(ke)信性比測(ce)接觸(chu)(chu)電阻(zu)合理。

    檢查發覺單(dan)孔分離出(chu)來(lai)力偏差的插口，精準測量接(jie)觸(chu)電阻通常(chang)仍達標(biao)。因此(ci)，生產廠家除要新產品研發新一代的軟(ruan)性插合接(jie)觸(chu)平穩靠譜的接(jie)觸(chu)件(jian)外，

 ;   不解(jie)(jie)決用以關鍵型號(hao)(hao)規格選用全(quan)自(zi)動插(cha)下(xia)力試(shi)驗儀(yi)多一點齊測，解(jie)(jie)決制成品開展(zhan)逐點單孔分(fen)離(li)出(chu)來力檢查(cha)，避免 因某些插(cha)口(kou)松弛導致數據信(xin)號(hao)(hao)瞬(shun)斷。

    瞬斷檢驗，一些接線端子是(shi)在(zai)動(dong)態性震動(dong)自然環境下(xia)應用(yong)的。試驗證實僅用(yong)檢測靜(jing)態數據(ju)接觸電(dian)阻是(shi)不是(shi)達標，

    并不可以確保動態性自然環境下應用接觸靠譜。由于，通常接觸電阻達標的射頻連接器在開展(zhan)震動，沖擊(ji)性等仿真模擬自然環境實驗時仍出(chu)現一瞬間關(guan)閉(bi)電源狀況，

    故對(dui)一些很高的可靠性(xing)規(gui)定的接(jie)線(xian)端子，能對(dui)其(qi)(qi)開展(zhan)動(dong)態性(xing)震動(dong)實驗(yan)考評其(qi)(qi)接(jie)觸可信性(xing)。

    防止接(jie)觸欠佳，通斷檢(jian)驗(yan)現階段，一(yi)(yi)般接(jie)線(xian)端(duan)子生(sheng)產商商品工程驗(yan)收實驗(yan)不存(cun)在新項(xiang)目，而客戶(hu)電腦裝機后(hou)一(yi)(yi)般均(jun)必(bi)須開展(zhan)通斷檢(jian)驗(yan)。假如(ru)缺乏靠(kao)譜的接(jie)線(xian)端(duan)子，那麼也就代表著沒有靠(kao)譜的自動化(hua)控制(zhi)。因此在具體工作上，對于于接(jie)線(xian)端(duan)子的管理方法是十分嚴(yan)苛的，在其中必(bi)須根據一(yi)(yi)些對策來防止固定不動欠佳的難題。為了(le)更好(hao)地做到(dao)這(zhe)一(yi)(yi)規定，接(jie)線(xian)端(duan)子應(ying)開展(zhan)公(gong)差配合檢(jian)查，說白(bai)了(le)公(gong)差配合檢(jian)查是一(yi)(yi)種動態性檢(jian)查。